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優(yōu)勢和特點
交流性能 0.01%建立時間:500 ns(10 V步進)壓擺率:75 V/μs總諧波失真(THD):0.0001%增益帶寬:13 MHz對于+2或更高的增益實行內部補償
單通道版本:AD744
直流性能 失調電壓:0.5 mV(最大值,AD746B)漂移:10 μV/°C(最大值,AD746B)開環(huán)增益:175 V/mV(最小值,AD746B)噪聲:2 μV峰峰值(0.1 Hz至10 Hz)提供小型塑封DIP、Cerdip和表貼封裝
依據(jù)EIA-481A標準提供卷帶和卷盤形式
產品詳情
AD746是一款雙通道運算放大器,單芯片上內置兩個AD744 BiFET運算放大器。這些精密單芯片運算放大器具有出色的直流特性、快速建立時間、高壓擺率和充裕的帶寬。此外,AD746還提供共用同一芯片的放大器本身所具有的高度匹配交流和直流特性。AD746的單極點響應特性可提供快速建立時間:0.01%建立時間為500 ns。該特性及高直流精度,使這款器件適合用作12或14位DAC/ADC的緩沖放大器。此外,0.0001%的低總諧波失真(THD)和高度匹配的交流特性,也使該器件成為許多要求苛刻的音頻應用的理想放大器。
AD746實行內部補償,可作為單位增益反相器或增益為2及以上的同相放大器穩(wěn)定工作。它按性能分為四級。AD746J的額定溫度范圍為0 °C至+70 °C商用溫度范圍。AD746A和AD746B的額定溫度范圍為-40°C至+85°C工業(yè)溫度范圍。AD746S按照MIL-STD-883B Rev. C標準加工,額定溫度范圍為-55°C至+125°C軍用溫度范圍。
AD746提供三種8引腳封裝:小型塑封DIP、密封Cerdip和表貼(SOIC)。
應用
12/14位DAC的雙通道輸出緩沖器
精密ADC、寬帶前置放大器和低失真音頻電路的輸入緩沖器
應用程序 低側電流檢測的使用有限制;但是,本應用筆記不會討論這些情況。請參考Maxim應用筆記746:“高端電流檢測:電路和原理”,了解有關低側電流檢測與高端電流檢測的更多詳細信息 電流檢測。
漏電起痕試驗機漏電起痕標準:GB4706.1-2008、GB/T4207-2022、IEC60112-2020《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》UL746
,基本試驗方法,灼熱絲試驗裝置和通用試驗程序》和UL746A、IEC829、DIN695、VDE0471等標準。根據(jù)標準的要求,在進行灼熱絲試驗時,需要注意以下幾點
使用 STM32F745 進行產品開發(fā)的時候,出現(xiàn)了使用 STM32CubeProgramer 無法通過 USART1 Bootloader 進行程序升級的問題。為了解決客戶的問題,我在 NUCLEO-F746ZG 開發(fā)板上,復現(xiàn)了同樣的現(xiàn)象,本文針對這個現(xiàn)象,分析了該問題的原因和解決方法,作為一個記錄。
用SBC給STM32F746Discovery燒寫程序。SBC就是單板電腦的意思,也可以叫卡片電腦(神奇的ARM小電腦),他是一個統(tǒng)稱;常見的SBC有樹莓派、Friendly ARM、香橙派、栗子派、Firefly等。
漏電起痕試驗機漏電起痕標準:GB4706.1-2008、GB/T4207-2022、IEC60112-2020《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》UL746
STM32F746IGT6 核心板 最小系統(tǒng)板 引出了所有I/O資源 帶JTAG/SWD調試下載接口 型號 Core746I
STM32F746G-DISCO STM32F746NGH6開發(fā)板 評估板 板載ST-LINK/V2 支持仿真調試 型號 STM32F746G-DISCO
| ADM1176 | AD7277 | ADG3247 | AD8804 |
| ADP223 | ADM8323 | ADCMP361 | ADA4691-2 |
| atmega16 | ADD5211 | AD6642 | ADG201A |
| ADSP-BF514F | AD9742 | AT9917 | ADG3246 |
| ADG1223 | AD9649 | AD7634 | AD743 |