Broadcom 的 AFBR-S4N44C013 是單 SiPM 器件，用于單光子的超靈敏、高精度測量。
有效面積為 3.72 mm x 3.72 mm。單芯片通過硅穿孔技術(shù) (TSV) 技術(shù)實(shí)現(xiàn)了高封裝密度。通過平鋪多個(gè) AFBR-S4N44C013 陣列來覆蓋較大的區(qū)域，顯著降低了任何邊緣損失的可能性。鈍化層采用低至 UV 波長的高透明度玻璃。這導(dǎo)致在可見光譜中響應(yīng)廣泛，對光譜中藍(lán)色和近紫外區(qū)具有高靈敏度。
該 SiPM 非常適用于檢測低水平脈沖光源，特別是 Cherenkov 光或來自極為常見的有機(jī)塑料材料和無機(jī)閃爍材料的閃爍光，具體包括 LSO、LYSO、BGO、Nal、Csl、BaF 和 LaBr。