國(guó)際整流器公司宣布推出功能強(qiáng)大的IR25750通用電流檢測(cè)IC，采用超緊湊型SOT23-5L封裝，可提高整體系統(tǒng)效率，同時(shí)為大電流應(yīng)用節(jié)省大量空間。

通過(guò)功率MOSFET或IGBT測(cè)量高電流通常需要大電阻，這會(huì)產(chǎn)生過(guò)多的功率損耗。通過(guò)在開(kāi)關(guān)導(dǎo)通期間提取功率MOSFET 的內(nèi)部R DS（ON）或IGBT 的V CE（ON）兩端的電壓，IR25750消除了大型外部電流檢測(cè)電阻，散熱片和過(guò)多的功率損耗。

IR25750的柵極驅(qū)動(dòng)輸入為IC 提供V CC電源電壓，并使R DS（ON）或V CE（ON）檢測(cè)電路與MOSFET或IGBT的導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)間同步。該器件利用IR專有的高壓技術(shù)，還具有600 V阻斷功能，可在開(kāi)關(guān)關(guān)斷期間阻斷高V DS或V CE電壓。其他主要特性包括低柵極輸入電容，導(dǎo)通時(shí)的內(nèi)部濾波器延遲（典型值為200 nsec）和GATE和CS引腳上的內(nèi)部20.8 V齊納鉗位。